SV-C3200系列 SV-C4500系列

粗度部分:
Z1軸(檢出器) 800 μm
量測範圍 80μm
     8μm
檢出器測定方法 差動感應
檢出器解析度 0.01/800μm
       0.001/80μm
       0.0001/8μm
檢出器測針尖端 -1:60°、半徑2μm
        -2::90°、半徑5μm
檢出器測定壓力 -1:0.75mN
        -2:4mN
X軸驅動部 0.02~5mm/s
量測速度
X軸驅動部 0~80mm/s、手動
移動速度
X軸驅動部解析度 0.05μm
Z2軸移動速度 0~20mm/s、手動
Z2軸解析度 1μm
粗度規格 JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
參數
Ra、Rq、Rsk、Rku、Rp、Rv、Rz、Rt、Rc、RSm、R△q、Rm(rC)、Rmr、Rσc、Ry、RyDIN、RzDIN、R3y、R3z、Pa、Pq、Psk、Pku、Rp、Rv、Pz、Pt、Pc、PSm、P△q、Pm(rC)、Rmr、Rσc、Wa、Wq、Wsk、Wku、Wp、Wv、Wz、Wt、Wc、WSm、W△q、Wm(rC)、Wmr、Wσc、Wx、AW、W、Wte、S、HSC、Lo、Ir、△a、λa、、λq、Vo、Htp、NR、NCRX、CPM、SR、SAR、NW、SW、SAW
評估曲線 原始曲線、粗度曲線、封包殘餘曲線、濾波波紋曲線、頻帶曲線、波紋曲線、滾圓波紋曲線、粗度MOTIF、波紋MOTIF、DIN4776曲線
圖形 振福分佈圖、BAC1、BAC2、能量波譜曲線、自動相關曲線、傾斜角度分佈曲線、峰值分佈曲線、參數分佈曲線
資料補正 傾斜補正、R面補正、橢圓補正、拋物線補正、雙曲螺線補正、多項式曲線補正、圓錐自動補正、多項式曲線自動補正
數位濾波器 高斯濾波器、2CRPC75、2CRPC75、2CR75、2CR50、robust spline濾波器
擷取長度 λc(mm):0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8、25、80、任意
     λs(μm):0.8、2.5、8、25、80、250、800、0.25、任意
輪廓部分:
一、測定範圍
Z1軸 60mm(水平狀態±30mm)
二、檢出器(Z1軸)
測長裝置 圓弧光學尺
測針作動 圓弧上下運動
測定方向 拉、推兩種方向
測定面方向 上、下兩種方向(單獨測定)
量測壓力 10、20、30、40、50mN(使用軟體Formtracepak設定)
測針角度限制 上升:77°、下降:83°(使用標準附屬品的片角測針時)依工件表面性質而定

三、驅動部
測長裝置 X軸:分離式線性規
     Z2軸(立柱):ABS光學尺
解析度 X軸:0.05μm
    Z2軸(立柱):1μm
驅動速度 X軸:0~80mm/s、手動操作
     Z2軸(立柱):0~30mm/s、手動操作
測定速度 X軸:0.02~5mm/s
傾斜角度 ±45°